Equipamentos multiusuários

Equipamento: Espectrômetro para análise Raman.

Características relevantes: Raman - RENISHAW que conta com 4 diferentes lasers (378 nm, 514nm, 633 nm e 786 nm) usados em técnicas de caracterização de diferentes materiais novos e de tecnologia altamente avançada visando identificação estrutural destes. Além de que o equipamento conta com tecnologia de análise em modo de operação, que foi desenvolvida pelo grupo. Nosso Raman faz análises estruturais em paralelo a testes de carga e descarga.

Natureza: Importado.

Ano de aquisição: 2016.

Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Hudson Zanin.

Equipamento: Analisador termogravimétrico TGA.

Características relevantes: Combinação de instrumentos DSC-TGA para determinação simultânea de calórico efeitos e mudanças de massa para medições de RT até 1600 °C e taxa de aquecimento de 0,001 a 50 K / min. O STA 449 F5 Jupiter está equipado com um sistema de carregamento pelo topo, altamente sensível micro equilíbrio que fornece alta precisão de medição e baixa deriva mesmo com grandes pesos de amostra e um controle elétrico de temperatura unidade para a câmara de equilíbrio. O sistema opera de acordo com os seguintes padrões: ISO 11358 ASTM E967, ASTM E968, ASTM E793, DIN 51004, DIN 51006, DIN 51007.

Natureza: Importado.

Ano de aquisição: 2021.

Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Hudson Zanin.

Equipamento: FT-IR, Espectrômetro de infra-vermelho modelo FT-IR Vertex 70 V.
Características relevantes: Usado para análise e caracterização de eletrodos e materiais para supercapacitores e baterias. Cobertura de uma faixa espectral desde 50 cm-1 no infravermelho distante (IR/THz), chegando ao infravermelho médio e próximo até a faixa espectral UV/visível em 28.000cm-1
Natureza: Importado. Bruker Optik GmbH. Microscópio de FT-IR modelo Hyperyon 2000.
Ano de aquisição: 2013. 
Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Hudson Zanin.

Equipamento: Microscópio AFM, Modelo XE7.
Características relevantes: Compreende: 1-Módulo completo de microscopia de força     atômica para amostras pequenas e médias, 2 - Módulo para microscopia de força magnética (MFM), 3- Módulo para microscopia de modulação de força (FMM), 4- Módulo para microscopia de força eletrostática ((EFM), 5- Módulo para microscopia em célula aberta líquida, 6- Módulo de nanoindentação. Características: Sistema completo de microscopia de força atômica com sistema de varredura XY completamente dissociado do sistema de varredura em Z, com curvatura zero de fundo.
Natureza: Importado.
Ano de aquisição: 2014.
Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Hudson Zanin.

Equipamento: Fornos construídos pelo laboratório para diferentes finalidades, peças usinadas.
Características relevantes: 1 forno usado para deposições via CVD, 1 forno CVD específico para síntese de Grafeno, 1 forno usado em calcinação, aquecimento, entre outras atividades que façam uso de altas temperaturas (1050ºC) com fluxação de gases para proporcionar atmosferas inertes variadas( nitrogênio industrial, argônio, nitrogênio analítico, oxigênio, metano e hidrogênio).
Natureza: Nacional.
Ano de aquisição: 2016.
Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Hudson Zanin.

 

Equipamento: XPS - Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X
O espectrômetro Thermo Scientific K-Alpha realiza a caracterização superficial de amostras de modo a identificar a concentração relativa dos elementos químicos presentes e seus estados de oxidação. O equipamento possibilita varredura de uma área de 50 μm a 400 μm com alta definição e rápida aquisição de dados. Opera em modo semiautomático com a possibilidade de analisar múltiplos pontos em sequência. Possui uma fonte de íons que pode controladamente decapar as amostras e fazer análises em diferentes profundidades. Inclui porta amostras especial para montagem de amostras em Glovebox. O equipamento fornece  software para tratamento rápido dos dados.

Natureza: Nacional.

Ano de aquisição: 2021.

Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Gustavo Doubek.

Equipamento: Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV).

Características relevantes: Características relevantes: O Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) Quattro S produz imagens ampliadas de uma variedade de espécimes, alcançando ampliação acima de 100.000 × e fornece imagens de alta resolução em formato digital. O instrumento oferece ótima taxa de transferência, resolução e automação. Esta ferramenta analítica importante e amplamente utilizada fornece um campo de visão excepcional, requer um mínimo de preparação de amostra e tem a capacidade de combinar a técnica com microanálise de raios-X. O instrumento fornece uma ampla gama de recursos: 
• Imagens de feixe de elétrons em alta resolução 
• Microanálise elementar em alta resolução de seções transversais de defeitos 
• Imagem de superfícies de amostra com o feixe de elétrons durante a navegação sem erosão

Natureza: Importado.

Ano de aquisição: 2020.

Responsável institucional pelo acesso ao equipamento:  Prof. Dr. Gustavo Doubek.